Obiekt

Tytuł: Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2019-09-19

Data dodania obiektu:

2019-09-19

Liczba wyświetleń treści obiektu:

3

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/140942

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji