Proszyński, Adam ; Chocyk, Dariusz ; Gładyszewski, Grzegorz ; Pieńkos, Tomasz ; Gładyszewski, Longin
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3, s. 517-522
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005 ; Optica Applicata, Vol. 35, 2005, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
19 wrz 2019
19 wrz 2019
54
https://dbc.wroc.pl/publication/140942
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films | 19 wrz 2019 |
Chocyk, Dariusz Proszyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Prószyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Proszyński, Adam Chocyk, Dariusz Gładyszewski, Grzegorz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pieńkos, Tomasz Gładyszewski, Longin Chocyk, Dariusz Prószyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Martin, Frank Jaouen, Christiane Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chocyk, Dariusz Prószyński, Adam Gładyszewski, Grzegorz Labat, Stephane Gergaud, Patrice Thomas, Olivier Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gładyszewska, Bożena Chocyk, Dariusz Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Gładyszewski, Longin Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wang, Bin Wang, Xi Qin, Yuan Ni, Xiaowu Shen, Zhonghua Lu, Jian