Obiekt

Tytuł: Analysis of mounting induced strain in semiconductor structures by means of spatially resolved optical modulation techniques

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

24 wrz 2019

Data dodania obiektu:

24 wrz 2019

Liczba wyświetleń treści obiektu:

60

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/140992

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji