Sun, Song ; Cao, Yiping ; Chen, Cheng ; Fu, Guangkai ; Wang, Yapin ; Xu, Xingfen
Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 1, s. 39-51
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa180104 ; oai:dbc.wroc.pl:109350
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018 ; Optica Applicata, Vol. 48, 2018, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
8 kwi 2021
8 kwi 2021
55
https://dbc.wroc.pl/publication/151273
Nazwa wydania | Data |
---|---|
A method for measuring the quality parameters of image intensifier based on projecting phase-shifting gratings | 8 kwi 2021 |
Xu, Xingfen Cao, Yiping Chen, Cheng Cao, Senpeng Peng, Kuang Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang
Zhang, Hongxia Li, Peng Jin, Qingwen Jia, Dagong Liu, Tiegen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Xu, Jing Xi, Ning Zhang, Chi Shi, Quan Gregory, John Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Xu, Xiaoqing Wang, Yawei Xu, Yuanyuan Jin, Weifeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Li, Dan Zhang, Baolong Zhu, Jiawei Wang, Qi Zhu, Zhenwei Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Hu, Yeu-Jent Sheu, Jin-Yi Lee, Jiunn-Chyi Wu, Ya-Fen