Mao, Zhuang ; Cao, Yiping ; Zhong, Lijun ; Cao, Senpeng
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1, s. 51-61
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa150105 ; oai:dbc.wroc.pl:37629
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
16 paź 2017
48
42
https://dbc.wroc.pl/publication/41644
Nazwa wydania | Data |
---|---|
A method for improving the precision of on-line phase measurement profilometry | 16 sty 2019 |
Yingchun, Wu Yiping, Cao Mingteng, Lu Kun, Li
Xu, Xingfen Cao, Yiping Chen, Cheng Cao, Senpeng Peng, Kuang Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sun, Song Cao, Yiping Chen, Cheng Fu, Guangkai Wang, Yapin Xu, Xingfen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rodríguez-Zurita, G. Vázquez-Castillo, J. F. Toto-Arellano, N. I. Calderón-Hernández, G. Barojas-Gutiérrez, E. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Zuo, Chao Chen, Qian Gu, Guohua Ren, Jianle Sui, Xiubao Zhang, Yuzhen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kaewon, Rapeepan Pawong, Chutchai Chitaree, Ratchapak Lertvanithphol, Tossaporn Bhatranand, Apichai Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kmet’, Arkady B. Muravsky, Leonid I. Voronyak, Taras I. Stasyshyn, Ihor V. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang