Yin, Aijun ; Yang, Zhengyi ; Long, Guangqian
Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1, s. 113-123
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa150111 ; oai:dbc.wroc.pl:37635
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 45, 2015, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
16 paź 2017
51
45
https://dbc.wroc.pl/publication/41652
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Precise sub-pixel size measurement with linear interpolation | 16 sty 2019 |
Yin, Aijun Dai, Zongxian Chen, Benqian Li, Kongjing Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Magiera, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wilk, Ireneusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja