Xu, Xingfen ; Cao, Yiping ; Chen, Cheng ; Cao, Senpeng ; Peng, Kuang
Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 1, s. 85-95
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa170108 ; oai:dbc.wroc.pl:38063
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
6 lis 2017
59
57
https://dbc.wroc.pl/publication/41869
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Abnormal phase removing method in phase measuring profilometry | 16 sty 2019 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Yingchun, Wu Yiping, Cao Mingteng, Lu Kun, Li
Sun, Song Cao, Yiping Chen, Cheng Fu, Guangkai Wang, Yapin Xu, Xingfen Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Fadhil, Hilal A. Aljunid, S.A. Ahmad, R.B. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Tian, Zixia Chen, Wenjing Su, Xianyu Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhenfen Cao, Yiping Zhai, Aiping Li, Yang Chen, Deliang
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja