Wang, Yingjie ; Cai, Wei ; Yang, Mu ; Liu, Zhengliang ; Shang, Guangyi
Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 1, s. 119-130
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa170111 ; oai:dbc.wroc.pl:38066
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 47, 2017, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
6 lis 2017
44
43
https://dbc.wroc.pl/publication/41873
Nazwa wydania | Data |
---|---|
A simple model of the scanning near-field optical microscopy probe tip for electric field enhancement | 16 sty 2019 |
Tjahjadi, Tardi Litwin, Dariusz Yang, Yee-Hong Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Yiyong, Liang Guoguang, Yang Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Guo-Dong Liu, Cai-Xia Sun, Dong-Ming Guo, Wen-Bin Chen, Wei-You Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Yang, Yong Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Yang, Ying Sun, Zhijun Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jiang, Qi Yang, Meng
Yang, Hua Tong, Xiongfeng Zhao, Saili Huang, Ying Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Yang, Hongwei Peng, Shuo Meng, Shanshan Urbańczyk, Wacław. Redakcja