Drobnik, Agnieszka ; Nowak, Piotr
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 1-2, s. 93-101
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 1-2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
4 kwi 2018
41
35
https://dbc.wroc.pl/publication/44788
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Electron microscopic analysis of the structure of the silver halide light-sensitive layers | 16 sty 2019 |
Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Skipirzepski, Piotr Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Latacz, Leszek Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Latacz, Leszek Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Rajkowski, Bogumił Nowak, Piotr Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja