Niedziela, Tadeusz ; Stankiewicz, Artur ; Świętochowski, Mirosław
Gaj, Kazimierz. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 2-3, s 349-359
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000 ; Optica Applicata, Vol. 30, 2000, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
23 mar 2018
56
46
https://dbc.wroc.pl/publication/45130
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Homographic wavelet analysis in identification of characteristic image features | 16 sty 2019 |
Niedziela, Tadeusz Stankiewicz, Artur Szymczak, Radosław Świętochowski, Mirosław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Niedziela, Tadeusz Stankiewicz, Artur Jaroszewicz, Leszek R. Merta, Idzi Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dulski, Rafał Niedziela, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cyran, Krzysztof A. Jaroszewicz, Leszek R. Niedziela, Tadeusz Merta, Idzi Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dulski, Rafał Madura, Henryk Niedziela, Tadeusz Sikorski, Tomasz Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stádník, B. Jirásková, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Woźnicka, G. Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja