Woźnicka, G. ; Kruszewski, J. ; Gutkowski, M. T.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4, s. 275-280
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993 ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 22, 2021
Mar 22, 2021
7
https://dbc.wroc.pl/publication/64882
Edition name | Date |
---|---|
Modelling of the thin-film structure for the purpose of ellipsometric measurements | Mar 22, 2021 |
Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Patej, E. J. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Kruszewski, S. Skonieczny, J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Dyksik, M. Motyka, M. Rygała, M. Pfenning, A. Hartmann, F. Weih, R. Worschech, L. Höfling, S. Sęk, G. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
He, Zhengrui Jin, Jie Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wu, Yingchun Cheng, Xing Liang, Jie Wang, Anhong Zhao, Xianling Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kovacevic, Milan S. Milosevic, Marko M. Kuzmanovic, Ljubica Djordjevich, Alexandar Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Huang, Zhiru Dai, Qihang Ji, Xiaoling Wang, Tao Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Karitans, Varis Tokmakovs, Andrejs Antonuka, Adele Urbańczyk, Wacław. Redakcja