Woźnicka, G. ; Kruszewski, J. ; Gutkowski, M. T.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4, s. 275-280
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993 ; Optica Applicata, Vol. 23, 1993, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 22, 2021
Mar 22, 2021
70
https://dbc.wroc.pl/publication/64882
Edition name | Date |
---|---|
Modelling of the thin-film structure for the purpose of ellipsometric measurements | Mar 22, 2021 |
Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Patej, E. J. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Kruszewski, S. Skonieczny, J. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Magiera, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wilk, Ireneusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja