Object
No title
Resource Identifier:
Format:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Jun 29, 2018
Number of object content hits:
14
Number of object content views in PDF format
12
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/49548
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Moiré deflectometry as a method for measuring wave aberrations | Jan 16, 2019 |
Similar
Puzewicz, Z. Mierczyk, Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kalestyński, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Jabczyński, J. Parkhomenko, Yu. N. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Bobak, Wiesław Jabczyński, J. Jankiewicz, Z. Nowakowski, W. Galich, G. A. Parkhomenko, J. N. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Pluta, Maksymilian Gaj, Kazimierz. Redakcja
Łątka, M. Jezierski, K. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Simova, E. Sainov, V. Gaj, Kazimierz. Redakcja
