Wilk, Ireneusz. Redakcja ; Gaj, Miron. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 25, 1995, nr 3, s. 197-210
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 25, 1995 ; Optica Applicata, Vol. 25, 1995, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
29 cze 2018
61
59
https://dbc.wroc.pl/publication/49548
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Moiré deflectometry as a method for measuring wave aberrations | 16 sty 2019 |
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Litwin, D. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaps, Ch. Schubert, R. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Antropova, Tatiana V. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kubica, J. M. Szczepański, P. Mroziewicz, B. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Islamov, R. Sh. Kermkulov, M. A. Konev, Yu. B. Ochkin, V. N. Savinov, S. Yu. Shotov, A. P. Spiridonov, M. V. Zasavitskii, I. L. Trzęsowski, Z. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja