Hojko, Mikołaj Ryszard ; Paszuk, Dorota ; Paszkiewicz, Bogdan
Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 35-38
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa130104 ; oai:dbc.wroc.pl:53964
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Nov 20, 2018
75
74
https://dbc.wroc.pl/publication/87658
Edition name | Date |
---|---|
Measurements of AlGaN/GaN heterostructures for sensor applications | Jan 16, 2019 |
Macherzyński, Wojciech Stafiniak, Andrzej Szyszka, Adam Gryglewicz, Jacek Paszkiewicz, Bogdan Paszkiewicz, Regina Tłaczała, Marek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wośko, Mateusz Paszkiewicz, Bogdan Paszkiewicz, Regina Tłaczała, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gryglewicz, Jacek Stafiniak, Andrzej Wośko, Mateusz Prażmowska, Joanna Paszkiewicz, Bogdan Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kowalczyk, Sylwia Komoń-Janczara, Elwira Glibowska, Agnieszka Targoński, Zdzisław
Lamch, Łukasz Jarzycka, Anna Szyk-Warszyńska, Lilianna Warszyński, Piotr Wilk, Kazimiera A. Drzymała, Jan. Redakcja
Peng, Mengsu Ratajczak, Tomasz Drzymała, Jan Hardygóra, Monika. Redakcja Szyszka, Danuta. Redakcja
Weijun, Peng Lingyan, Zhang Yangshuai, Qiu Shaoxian, Song Drzymała, Jan. Redakcja