Object
Title: Temperature-induced changes in the topography and morphology of C–nPd films deposited on fused silica
Creator:
Diduszko, Ryszard ; Kowalska, Ewa ; Kozłowski, Mirosław ; Czerwosz, Elżbieta ; Kamińska, Anna
Contributor:
Description:
Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 133-141
Publisher:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication:
Date:
Resource Type:
Resource Identifier:
doi:10.5277/oa130117 ; oai:dbc.wroc.pl:54021
Source:
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language:
Relation:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Nov 21, 2018
Number of object content hits:
56
Number of object content views in PDF format
58
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/87842
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Temperature-induced changes in the topography and morphology of C–nPd films deposited on fused silica | Jan 16, 2019 |
Similar
Rymarczyk, Joanna Kamińska, Anna Kęczkowska, Justyna Kozłowski, Mirosław Czerwosz, Elżbieta Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Czerwosz, Elżbieta Kowalska, Ewa Kozłowski, Mirosław Rymarczyk, Joanna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kamińska, Anna Krawczyk, Sławomir Kozłowski, Mirosław Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Annealing time effects on the surface morphology of C–Pd films prepared on silicon covered with SiO2
Kozłowski, Mirosław Radomska, Joanna Wronka, Halina Czerwosz, Elżbieta Firek, Piotr Sobczak, Kamil Dłużewski, Piotr Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Dudek, Agata Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rysiakiewicz-Pasek, Ewa Poprawski, Ryszard Urbanowicz, Adam Mączka, Mirosław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ovechko, Volodymyr Schur, Olexander Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Depth dependent X-ray diffraction of porous anodic alumina films filled with cubic YAlO3:Tb3+ matrix
Serafińczuk, Jarosław Pawlaczyk, Łukasz Podhorodecki, Artur Gaponenko, Nikolai Molchan, Igor Thompson, George Urbańczyk, Wacław. Redakcja
