Yingchun, Wu ; Yiping, Cao ; Mingteng, Lu ; Kun, Li
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1, s. 31-41
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa120103 ; oai:dbc.wroc.pl:54056
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
15 sty 2019
21 lis 2018
72
69
https://dbc.wroc.pl/publication/88005
Nazwa wydania | Data |
---|---|
An on-line phase measuring profilometry based on modulation | 15 sty 2019 |
Mao, Zhuang Cao, Yiping Zhong, Lijun Cao, Senpeng Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Li, Jingsong Liu, Kun Zhang, WeiJun Chen, Weidong Gao, Xiaoming Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wu, Yingchun Cheng, Xing Liang, Jie Wang, Anhong Zhao, Xianling Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Motyka, Marcin Sęk, Grzegorz Janiak, Filip Ryczko, Krzysztof Misiewicz, Jan Kosiel, Kamil Bugajski, Maciej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Suhr, Lau Frejstup Madsen, Peter Tafur Monroy, Idelfonso Vegas Olmos, Juan Jose Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Shao, Jie Gao, Xiaoming Zhang, Weijun Yuan, Yiqian Ning, Lixin Yang, Yong Pei, Shixing Huang, Wei Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Liu, Yong Li, Baosheng Zhai, Yufeng Wang, An Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wang, Fei Xia, Guangqiong Wu, Zhengmao Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja