Krelling, Paulo C. L. ; Gonzalez-Jorge, Higinio ; Martinez-Sanchez, Joaquin ; Arias, Pedro
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 4, s. 773-781
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa120409 ; oai:dbc.wroc.pl:56442
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
15 sty 2019
4 gru 2018
85
99
https://dbc.wroc.pl/publication/91907
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Accuracy in target center evaluation using Riegl LMS Z390i laser scanner and Riscan Pro software | 15 sty 2019 |
Krelling, Paulo C. L. Gonzalez-Jorge, Higinio Armesto, Julia Arias, Pedro Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gonzalez-Jorge, Higinio Solla, Mercedes Armesto, Julia Arias, Pedro
Gonzalez-Jorge, Higinio Riveiro, Belen Armesto, Julia Arias, Pedro Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Godlewski, Michał M. Górka, Magdalena Gajkowska, Barbara Wojewódzka, Urszula Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Evstrapov, Anatoly Esikova, Nadya Rudnitskaya, Galina Antropova, Tatyana V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sikora, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja