Chrzanowski, Krzysztof ; Li, Xianmin
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3, s. 727-735
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010 ; Optica Applicata, Vol. 40, 2010, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
30 sty 2019
30 sty 2019
57
https://dbc.wroc.pl/publication/98192
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Configuration of systems for testing thermal imagers | 30 sty 2019 |
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gruhn, Wojciech
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Karolczak, Jerzy Gaj, Miron. Redakcja
Piotrowski, Tadeusz Tomaszewski, Daniel Węgrzecki, Maciej Malyutenko, Vladimir K. Tykhonov, Andrew M. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kulesza, Sławomir
Mikluc, Davorin L. Andrić, Milenko S. Mitrović, Srdjan T. Bondžulić, Boban P. Urbańczyk, Wacław. Redakcja