Obiekt
Tytuł: The study of structural and optical properties of TiO2:Tb thin films
Autor:
Borkowska, Agnieszka ; Domaradzki, Jarosław ; Kaczmarek, Danuta ; Wojcieszak, Damian
Współtwórca:
Opis:
Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4, s. 335-340
Abstrakt:
This work presents the study of the structural and optical properties of TiO2:Tb thin films deposited on Si (100) and SiO2 substrates by magnetron sputtering from metallic Ti-Tb mosaic target. Thin films were studied by means of scanning electron microscopy with energy disperse spectrometer (SEM-EDS), atomic force microscopy (AFM), X-ray diffraction (XRD) and the optical transmission method. From SEM-EDS the total amount of Tb concentration was determined. XRD analysis revealed the existence of crystalline TiO2 in the form of anatase and rutile, depending on Tb amount in the examined samples. The optical transmission method has shown that Tb doping shifts the fundamental absorption edge of TiO2 toward the longer wavelength region.
Wydawca:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Miejsce wydania:
Data wydania:
Typ zasobu:
Identyfikator zasobu:
Źródło:
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Język:
Powiązania:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007 ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Prawa:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Prawa dostępu:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Lokalizacja oryginału:
Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Uczestnicy Konsorcjum > 01. Politechnika Wrocławska > Czasopisma > Wydane w PWr > Optica Applicata
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Zasoby > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Dolnośląska Biblioteka Cyfrowa > Dziedziny nauki > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Data ostatniej modyfikacji:
2019-03-29
Data dodania obiektu:
2019-03-29
Liczba wyświetleń treści obiektu:
2
Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:
https://dbc.wroc.pl/publication/116394
Wyświetl opis w formacie RDF:
Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:
-
Optica Applicata
-
Optica Applicata, Vol. 1, 1971
-
Optica Applicata, Vol. 2, 1972
-
Optica Applicata, Vol. 3, 1973
-
Optica Applicata, Vol. 4, 1974
-
Optica Applicata, Vol. 5, 1975
-
Optica Applicata, Vol. 6, 1976
-
Optica Applicata, Vol. 7, 1977
-
Optica Applicata, Vol. 8, 1978
-
Optica Applicata, Vol. 9, 1979
-
Optica Applicata, Vol. 10, 1980
-
Optica Applicata, Vol. 11, 1981
-
Optica Applicata, Vol. 12, 1982
-
Optica Applicata, Vol. 13, 1983
-
Optica Applicata, Vol. 14, 1984
-
Optica Applicata, Vol. 15, 1985
-
Optica Applicata, Vol. 16, 1986
-
Optica Applicata, Vol. 17, 1987
-
Optica Applicata, Vol. 18, 1988
-
Optica Applicata, Vol. 19, 1989
-
Optica Applicata, Vol. 20, 1990
-
Optica Applicata, Vol. 21, 1991
-
Optica Applicata, Vol. 22, 1992
-
Optica Applicata, Vol. 23, 1993
-
Optica Applicata, Vol. 24, 1994
-
Optica Applicata, Vol. 25, 1995
-
Optica Applicata, Vol. 26, 1996
-
Optica Applicata, Vol. 27, 1997
-
Optica Applicata, Vol. 28, 1998
-
Optica Applicata, Vol. 29, 1999
-
Optica Applicata, Vol. 30, 2000
-
Optica Applicata, Vol. 31, 2001
-
Optica Applicata, Vol. 32, 2002
-
Optica Applicata, Vol. 33, 2003
-
Optica Applicata, Vol. 34, 2004
-
Optica Applicata, Vol. 35, 2005
-
Optica Applicata, Vol. 36, 2006
-
Optica Applicata, Vol. 37, 2007
-
Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 1-2
-
Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 3
-
Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4
- Capacitance-voltage and Auger chemical profile studies on AlGaN/GaN structures passivated by SiO2/Si3N4 and SiNx/Si3N4 bilayers
- The study of structural and optical properties of TiO2:Tb thin films
- Micro- and nanostructurization of surfaces – techniques and applications
- Crystallization kinetics of Fe78Si9B13 metallic glass
- Parameters comparison of p-i-n and quantum well solar cells
- Computer analysis of oxygen adsorption at SnO2 thin films
- Propagation of polarized light through optical nanosuperlattices
- Uncertainty of atomic force microscopy measurements
- Resonant microcavity enhanced infrared photodetectors
- Technology and characterization of p-i-n photodetectors with DQW (In,Ga)(As,N)/GaAs active region
- High power (>1 W) room-temperature (300 K) 980 nm continuous-wave AlGaAs/InGaAs/GaAs semiconductor lasers
- Optical emission from Eu, Tb, Nd luminescence centers in TiO2 prepared by magnetron sputtering
- Microphotoreflectance spectroscopy – a modulation technique with high spatial resolution
- Optical characterisation of vertical-external-cavity surface-emitting lasers (VECSELs)
- Influence of the second shell layer (TOPO, HDA) on the optical properties of CdSe/ZnS nanocrystal powder
-
Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 1-2
-
Optica Applicata, Vol. 38, 2008
-
Optica Applicata, Vol. 39, 2009
-
Optica Applicata, Vol. 40, 2010
-
Optica Applicata, Vol. 41, 2011
-
Optica Applicata, Vol. 42, 2012
-
Optica Applicata, Vol. 43, 2013
-
Optica Applicata, Vol. 44, 2014
-
Optica Applicata, Vol. 45, 2015
-
Optica Applicata, Vol. 46, 2016
-
Optica Applicata, Vol. 47, 2017
-
Optica Applicata, Vol. 1, 1971
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| The study of structural and optical properties of TiO2:Tb thin films | 2019-03-29 |
