Kmet’, Arkady B. ; Muravsky, Leonid I. ; Voronyak, Taras I. ; Stasyshyn, Ihor V.
Optica Applicata, Vol. 49, 2019, nr 2, s. 331-343
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa190213 ; oai:dbc.wroc.pl:109433
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 49, 2019 ; Optica Applicata, Vol. 49, 2019, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Apr 9, 2021
Apr 9, 2021
58
https://dbc.wroc.pl/publication/151381
Edition name | Date |
---|---|
Two-step dual-wavelength interferometry for surface relief retrieval | Apr 9, 2021 |
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Galanciak, Danuta Gryk, Wojciech Grinberg, Marek Macalik, Lucyna Mączka, Mirosław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Richter, D. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Klebe, Joachim Miesel, Kukt Gaj, Kazimierz. Redakcja
Richter, Dieter Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wnuczak, Eugeniusz Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wnuczak, Eugeniusz Gaj, Kazimierz. Redakcja