Obiekt

Tytuł: Modelling of the thin-film structure for the purpose of ellipsometric measurements

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

22 mar 2021

Data dodania obiektu:

22 mar 2021

Liczba wyświetleń treści obiektu:

7

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/64882

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji