Evmenova, Anna ; Odarych, Volodymyr ; Vuichyk, Mykola
Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3, s. 667-675
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa120320 ; oai:dbc.wroc.pl:55936
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012 ; Optica Applicata, Vol. 42, 2012, Nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 15, 2019
Nov 30, 2018
40
34
https://dbc.wroc.pl/publication/90961
Edition name | Date |
---|---|
Ellipsometric investigation of CdTe films | Jan 15, 2019 |
Evmenova, Anna Z. Odarych, Volodymyr A. Sizov, Fedir F. Vuichyk, Mykola V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kyselak, Martin Dvorak, Filip Maschke, Jan Vlcek, Cestmir Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Nalimov, I. P. Ovechkis, Yu. N. Fedchuk, I. U. Shakirov, A. Kh. Antonov, V. M. Zarutskii, L. P. Gaj, Miron. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Magiera, A. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Wilk, Ireneusz Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja