Chrzanowski, Krzysztof ; Hong Viet, Nguyen
Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 4, s. 671-688
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.37190/oa200413 ; oai:dbc.wroc.pl:109555
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Apr 12, 2021
Apr 12, 2021
126
https://dbc.wroc.pl/publication/151518
Edition name | Date |
---|---|
Virtual MRTD – an indirect method to measure MRTD of thermal imagers using computer simulation | Apr 12, 2021 |
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Li, Xianmin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Strulak-Wójcikiewicz, Roma Łatuszyńska, Małgorzata Mercik, Jacek Wiesław. Redakcja Ostasiewicz, Walenty. Redakcja
Bohidar, Himadri B. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Peisert, J. Biegański, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kurzynowski, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja