Chrzanowski, Krzysztof ; Hong Viet, Nguyen
Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 4, s. 671-688
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.37190/oa200413 ; oai:dbc.wroc.pl:109555
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020 ; Optica Applicata, Vol. 50, 2020, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
12 kwi 2021
12 kwi 2021
126
https://dbc.wroc.pl/publication/151518
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Virtual MRTD – an indirect method to measure MRTD of thermal imagers using computer simulation | 12 kwi 2021 |
Bielecki, Zbigniew Chrzanowski, Krzysztof Matyszkiel, Robert Piątkowski, Tadeusz Szulim, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Chrzanowski, Krzysztof Li, Xianmin Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Strulak-Wójcikiewicz, Roma Łatuszyńska, Małgorzata Mercik, Jacek Wiesław. Redakcja Ostasiewicz, Walenty. Redakcja
Bohidar, Himadri B. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Peisert, J. Biegański, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kurzynowski, P. Gaj, Kazimierz. Redakcja