Szewczenko, Janusz ; Jaglarz, Janusz ; Basiaga, Marcin ; Kurzyk, Jan ; Paszenda, Zbigniew
Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 173-180
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa130121 ; oai:dbc.wroc.pl:54028
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Nov 21, 2018
41
32
https://dbc.wroc.pl/publication/87887
Edition name | Date |
---|---|
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys | Jan 16, 2019 |
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cojocaru, E. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Angelsky, Oleg V. Bogatyryova, Halina V. Polyanskii, Peter V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Dake Chasteen, Emily Onyeuku, Chisom Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kraszewski, Maciej Pluciński, Jerzy Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Strzelecka, Joanna Bosek, Maciej Grzegorzewski, Bronisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kravtsov, Yury A. Apresyan, Leon A. Asatryan, Ara A. Chrzanowski, Janusz Kirkiewicz, Józef Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja