Szewczenko, Janusz ; Jaglarz, Janusz ; Basiaga, Marcin ; Kurzyk, Jan ; Paszenda, Zbigniew
Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 173-180
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa130121 ; oai:dbc.wroc.pl:54028
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
21 lis 2018
41
32
https://dbc.wroc.pl/publication/87887
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Optical methods applied in thickness and topography testing of passive layers on implantable titanium alloys | 16 sty 2019 |
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Cojocaru, E. Wilk, Ireneusz. Redakcja Gaj, Miron. Redakcja
Angelsky, Oleg V. Bogatyryova, Halina V. Polyanskii, Peter V. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wang, Dake Chasteen, Emily Onyeuku, Chisom Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kraszewski, Maciej Pluciński, Jerzy Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Łukianowicz, Czesław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Strzelecka, Joanna Bosek, Maciej Grzegorzewski, Bronisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kravtsov, Yury A. Apresyan, Leon A. Asatryan, Ara A. Chrzanowski, Janusz Kirkiewicz, Józef Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja