Mariappan, R. ; Ragavendar, M. ; Ponnuswamy, V.
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4, s. 989-997
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 21, 2019
Jan 21, 2019
54
https://dbc.wroc.pl/publication/96540
Edition name | Date |
---|---|
Structural and optical characterization of SnS thin films by electrodeposition technique | Jan 21, 2019 |
Gębara, Piotr Pawlik, Piotr Kulej, Edyta Wysłocki, Jerzy J. Pawlik, Katarzyna Przybył, Anna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kusz, Bogusław Trzebiatowski, Konrad Gazda, Maria Murawski, Leon Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Ovechko, Volodymyr Schur, Olexander Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Motyka, Marcin Gelczuk, Łukasz Dąbrowska-Szata, Maria Serafińczuk, Jarosław Kudrawiec, Robert Misiewicz, Jan Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Girsova, Marina A. Golovina, Galina F. Drozdova, Irina A. Polyakova, Irina G. Antropova, Tatiana V. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kozłowski, Mirosław Radomska, Joanna Wronka, Halina Czerwosz, Elżbieta Firek, Piotr Sobczak, Kamil Dłużewski, Piotr Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Diduszko, Ryszard Kowalska, Ewa Kozłowski, Mirosław Czerwosz, Elżbieta Kamińska, Anna Urbańczyk, Wacław. Redakcja