Guotian, He ; Helun, Jiang ; Xingwen, Tan
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 2, s. 413-420
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
22 mar 2019
22 mar 2019
198
https://dbc.wroc.pl/publication/114247
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Sinusoidal phase modulating interferometer for real-time surface profile measurement | 22 mar 2019 |
He, Guotian Lu, Yuangang Liao, Changrong Zeng, Zhi Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Miller, Reinhard Aksenenko, Eugene V. Kovalchuk, Volodymir I. Tarasevich, Yuri I. Fainerman, Valentin B. Drzymała, Jan. Redakcja
Romanowski, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Miron. Redakcja
Marcinów, Tadeusz Wesołowska, Cecylia Wiktorczyk, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Rattan, R. Gupta, A. K. Singh, K. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Mietlarek, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Bissinger, Janusz Raczyński, Krzysztof Gaj, Miron. Redakcja