Guotian, He ; Helun, Jiang ; Xingwen, Tan
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 2, s. 413-420
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 22, 2019
Mar 22, 2019
15
https://dbc.wroc.pl/publication/114247
Edition name | Date |
---|---|
Sinusoidal phase modulating interferometer for real-time surface profile measurement | Mar 22, 2019 |
He, Guotian Lu, Yuangang Liao, Changrong Zeng, Zhi Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Miller, Reinhard Aksenenko, Eugene V. Kovalchuk, Volodymir I. Tarasevich, Yuri I. Fainerman, Valentin B.
Pieńkowski, J. Michalski, W. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Pluta, Maksymilian Żyrnicki, Wiesław Abramski, Krzysztof M. Brunné, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Kazimierz. Redakcja
Surażyński, Lech Szustakowski, Mieczysław Gaj, Kazimierz. Redakcja
Oleszkiewicz, J. Podgórny, M. Knapik, J. Kisiel, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Oleszkiewicz, Ewa Gaj, Kazimierz. Redakcja