Obiekt

Tytuł: Optical characterisation of vertical-external-cavity surface-emitting lasers (VECSELs)

Autor:

Wójcik-Jedlińska, Anna ; Pierściński, Kamil ; Jasik, Agata ; Muszalski, Jan ; Bugajski, Maciej

Współtwórca:

Gaj, Miron. Redakcja

Opis:

Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4, s. 449-457

Abstrakt:

The purpose of this paper is to outline the principles of optical characterisation of the new kind of semiconductor devices: vertical-external-cavity surface-emitting lasers (VECSELs). Realisation of high efficiency semiconductor devices requires high accuracy of epitaxial process. Gain characteristic of VECSEL structure is strongly affected by the precise placing of the quantum wells within the multilayer structure. Detailed optical characterisation of particular parts of the structure allows growth errors to be identified and gives insight into the lasing behaviour. In this work, we present an approach taking advantage of two spectroscopic techniques, photoluminescence and reflectance measurements, to study properties of VECSEL structure based on InGaAs/GaAs active region, designed for emission wavelength at 980 nm.

Wydawca:

Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej

Miejsce wydania:

Wrocław

Data wydania:

2007

Typ zasobu:

artykuł

Identyfikator zasobu:

oai:dbc.wroc.pl:63182

Źródło:

<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść

Język:

eng

Powiązania:

Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007 ; Optica Applicata, Vol. 37, 2007, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki

Prawa:

Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)

Prawa dostępu:

Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku

Lokalizacja oryginału:

Politechnika Wrocławska

Tytuł publikacji grupowej:

Optica Applicata

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

1 kwi 2019

Data dodania obiektu:

1 kwi 2019

Liczba wyświetleń treści obiektu:

53

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/117047

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

×

Cytowanie

Styl cytowania:

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji