Bąk-Misiuk, Jadwiga ; Misiuk, Andrzej ; Domagała, Jarosław
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 319-325
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
69
68
https://dbc.wroc.pl/publication/44817
Edition name | Date |
---|---|
Defect structure changes in thin layers of semiconductors annealed under hydrostatic pressure | Jan 16, 2019 |
Bryja, Leszek Kątcki, Jerzy Ratajczak, Jacek Misiuk, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kowalczyk, Anna E. Ornoch, Leszek Muszalski, Jan Kaniewski, Janusz Bąk-Misiuk, Jadwiga Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jung, Wojciech Misiuk, Andrzej Londos, Charalambos A. Yang, Deren Antonova, Irina V. Prujszczyk, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja