Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
30
22
https://dbc.wroc.pl/publication/44817
Edition name | Date |
---|---|
Defect structure changes in thin layers of semiconductors annealed under hydrostatic pressure | Jan 16, 2019 |
Kowalczyk, Anna E. Ornoch, Leszek Muszalski, Jan Kaniewski, Janusz Bąk-Misiuk, Jadwiga Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Bryja, Leszek Kątcki, Jerzy Ratajczak, Jacek Misiuk, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jung, Wojciech Misiuk, Andrzej Londos, Charalambos A. Yang, Deren Antonova, Irina V. Prujszczyk, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Puzewicz, Z. Mierczyk, Z. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Kalestyński, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Jabczyński, J. Parkhomenko, Yu. N. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Bobak, Wiesław Jabczyński, J. Jankiewicz, Z. Nowakowski, W. Galich, G. A. Parkhomenko, J. N. Gaj, Kazimierz. Redakcja