Bąk-Misiuk, Jadwiga ; Misiuk, Andrzej ; Domagała, Jarosław
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 319-325
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Jan 16, 2019
Apr 4, 2018
103
110
https://dbc.wroc.pl/publication/44817
| Edition name | Date |
|---|---|
| Defect structure changes in thin layers of semiconductors annealed under hydrostatic pressure | Jan 16, 2019 |
Bryja, Leszek Kątcki, Jerzy Ratajczak, Jacek Misiuk, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Kowalczyk, Anna E. Ornoch, Leszek Muszalski, Jan Kaniewski, Janusz Bąk-Misiuk, Jadwiga Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Jung, Wojciech Misiuk, Andrzej Londos, Charalambos A. Yang, Deren Antonova, Irina V. Prujszczyk, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Goldys, E.M. Drozdowicz-Tomsia, K. Zhu, G. Yu, H. Jinjun, S. Motlan, M. Godlewski, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stefaniak, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Dubik, Bogusława Gaj, Miron. Redakcja