Object
No title
Resource Identifier:
Format:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Jan 16, 2019
In our library since:
Apr 4, 2018
Number of object content hits:
20
Number of object content views in PDF format
12
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/44855
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Non-standard techniques of surface characterization in scanning electron microscope | Jan 16, 2019 |
Similar
Słówko, Witold Gaj, Miron. Redakcja
Słówko, Witold Mulak, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Słówko, Witold Mulak, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Mulak, Andrzej Słówko, Witold Gaj, Miron. Redakcja
Dyksik, M. Motyka, M. Rygała, M. Pfenning, A. Hartmann, F. Weih, R. Worschech, L. Höfling, S. Sęk, G. Urbańczyk, Wacław. Redakcja
He, Zhengrui Jin, Jie Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wu, Yingchun Cheng, Xing Liang, Jie Wang, Anhong Zhao, Xianling Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kovacevic, Milan S. Milosevic, Marko M. Kuzmanovic, Ljubica Djordjevich, Alexandar Urbańczyk, Wacław. Redakcja
