Kozłowski, Mirosław ; Radomska, Joanna ; Wronka, Halina ; Czerwosz, Elżbieta ; Firek, Piotr ; Sobczak, Kamil ; Dłużewski, Piotr
Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1, s. 81-89
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
doi:10.5277/oa130111 ; oai:dbc.wroc.pl:53999
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013 ; Optica Applicata, Vol. 43, 2013, nr 1 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
21 lis 2018
28
30
https://dbc.wroc.pl/publication/87750
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Annealing time effects on the surface morphology of C–Pd films prepared on silicon covered with SiO2 | 16 sty 2019 |
Diduszko, Ryszard Kowalska, Ewa Kozłowski, Mirosław Czerwosz, Elżbieta Kamińska, Anna Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Czerwosz, Elżbieta Kowalska, Ewa Kozłowski, Mirosław Rymarczyk, Joanna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kamińska, Anna Krawczyk, Sławomir Kozłowski, Mirosław Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Rymarczyk, Joanna Kamińska, Anna Kęczkowska, Justyna Kozłowski, Mirosław Czerwosz, Elżbieta Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Schowalter, Marco Rosenauer, Andreas Litvinov, Dimitri Gerthsen, Dagmar Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Barańska, Anna Szerling, Anna Karbownik, Piotr Hejduk, Krzysztof Bugajski, Maciej Łaszcz, Adam Gołaszewska-Malec, Krystyna Filipowski, Wojciech Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Markowski, Piotr Prociów, Eugeniusz Dziedzic, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Gaj, Miron. Redakcja