Krok, Franciszek ; Kołodziej, Jacek J. ; Such, Bartosz ; Piątkowski, Piotr ; Szymoński, Marek ; Odendaal, R. Quintin ; Malherbe, Johan B.
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3, s. 221-226
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002 ; Optica Applicata, Vol. 32, 2002, nr 3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
2019-01-16
2018-04-04
4
1
https://dbc.wroc.pl/publication/44804
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Low energy ion beam-induced modification of InSb surface studied at nanometric scale | 2019-01-16 |
Targosz, Marta Czuba, Paweł Szymoński, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pieńkowski, J. Michalski, W. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Pluta, Maksymilian Żyrnicki, Wiesław Abramski, Krzysztof M. Brunné, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Kazimierz. Redakcja
Surażyński, Lech Szustakowski, Mieczysław Gaj, Kazimierz. Redakcja
Oleszkiewicz, J. Podgórny, M. Knapik, J. Kisiel, A. Gaj, Kazimierz. Redakcja
Oleszkiewicz, Ewa Gaj, Kazimierz. Redakcja
Sobolewski, Andrzej Nowicki, Romuald Gaj, Kazimierz. Redakcja