Guotian, He ; Helun, Jiang ; Xingwen, Tan
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 2, s. 413-420
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008 ; Optica Applicata, Vol. 38, 2008, nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Mar 22, 2019
Mar 22, 2019
136
https://dbc.wroc.pl/publication/114247
Edition name | Date |
---|---|
Sinusoidal phase modulating interferometer for real-time surface profile measurement | Mar 22, 2019 |
He, Guotian Lu, Yuangang Liao, Changrong Zeng, Zhi Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Miller, Reinhard Aksenenko, Eugene V. Kovalchuk, Volodymir I. Tarasevich, Yuri I. Fainerman, Valentin B. Drzymała, Jan. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja