Szyszka, Adam ; Ściana, Beata ; Radziewicz, Damian ; Macherzyński, Wojciech ; Paszkiewicz, Bogdan ; Tłaczała, Marek
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 281-288
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
7 gru 2011
2 007
1991
https://dbc.wroc.pl/publication/12716
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Characterization of AIIIBV epitaxial layers by scanning spreading resistance microscopy | 16 sty 2019 |
Ściana, Beata Radziewicz, Damian Pucicki, Damian Tłaczała, Marek Kováč, Jaroslav Srnanek, Rudolf Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Pucicki, Damian Zborowska-Lindert, Iwona Ściana, Beata Radziewicz, Damian Boratyński, Bogusław Gaj, Miron. Redakcja
Papis, Ewa Barańska, Anna Karbownik, Piotr Szerling, Anna Wójcik-Jedlińska, Anna Bugajski, Maciej Rzodkiewicz, Witold Szade, Jacek Wawro, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Białous, Małgorzata Świtkowski, Krzysztof Kozanecka-Szmigiel, Anna Wierzbicki, Michał Pura, Bronisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Sarzała, Robert P. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Barańska, Anna Szerling, Anna Karbownik, Piotr Hejduk, Krzysztof Bugajski, Maciej Łaszcz, Adam Gołaszewska-Malec, Krystyna Filipowski, Wojciech Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Badura, Mikołaj Bielak, Katarzyna Ściana, Beata Radziewicz, Damian Pucicki, Damian Dawidowski, Wojciech Żelazna, Karolina Kudrawiec, Robert Tłaczała, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Prażmowska, Joanna Korbutowicz, Ryszard Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja