Jan 16, 2019
Dec 14, 2018
9
5
https://dbc.wroc.pl/publication/95690
Edition name | Date |
---|---|
X-ray, AFM, UV–VIS–IR analysis of a-Si:H/μc-Si:H supperlattice structure | Jan 16, 2019 |
Kucharska, Barbara Kulej, Edyta Kanak, Jarosław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jasik, Agata Sass, Jerzy Mazur, Krystyna Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja
Gębara, Piotr Pawlik, Piotr Kulej, Edyta Wysłocki, Jerzy J. Pawlik, Katarzyna Przybył, Anna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Gotszalk, Teodor P. Janus, Paweł Marendziak, Andrzej Szeloch, Roman F. Gaj, Miron. Redakcja
Sikora, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kusz, Bogusław Trzebiatowski, Konrad Gazda, Maria Murawski, Leon Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Grodzicki, Miłosz Wasielewski, Radosław Mazur, Piotr Zuber, Stefan Ciszewski, Antoni Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Serafińczuk, Jarosław Pietrucha, Jakub Schroeder, Grzegorz Gotszalk, Teodor P. Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja