Piskorski, Krzysztof ; Przewłocki, Henryk M. ; Esteve, Romain ; Bakowski, Mietek
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2, s. 295-305
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011 ; Optica Applicata, Vol. 41, 2011, Nr 2 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
16 sty 2019
12 gru 2018
79
72
https://dbc.wroc.pl/publication/95076
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Electrical and photoelectric characterization of the MOS structures on 3C–SiC substrate | 16 sty 2019 |
Bogaczewicz, Rafał Antoni Popko, Ewa Gwóźdź, Katarzyna Renata Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja
Jasny, Jan Płocharski, Stanislaw Gaj, Miron. Redakcja
Bilewicz, Zygmunt Gaj, Miron. Redakcja
Bogdanienko-Jakubicz, Anna Hałaciński, Bogumił Gaj, Miron. Redakcja
Plokarz, Halina Ratajczyk, Florian Lisowska, Barbara Gaj, Miron. Redakcja