Obiekt

Tytuł: X-ray, AFM, UV–VIS–IR analysis of a-Si:H/μc-Si:H supperlattice structure

Kolekcje, do których przypisany jest obiekt:

Data ostatniej modyfikacji:

2019-01-16

Data dodania obiektu:

2018-12-14

Liczba wyświetleń treści obiektu:

9

Liczba wyświetleń treści obiektu w formacie PDF

5

Wszystkie dostępne wersje tego obiektu:

https://dbc.wroc.pl/publication/95690

Wyświetl opis w formacie RDF:

RDF

Wyświetl opis w formacie OAI-PMH:

OAI-PMH

Podobne

Ta strona wykorzystuje pliki 'cookies'. Więcej informacji