Object
Title: Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition
Creator:
Krajewski, Tomasz A. ; Łuka, Grzegorz ; Wachnicki, Łukasz ; Jakieła, Rafał ; Witkowski, Bartłomiej ; Guziewicz, Elżbieta ; Godlewski, Marek ; Huby, Nolwenn ; Tallarida, Grazia
Contributor:
Gaj, Miron. Redakcja ; Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Description:
Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4, s. 865-874
Abstrakt:
Publisher:
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
Place of publication:
Date:
Resource Type:
Resource Identifier:
Source:
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Language:
Relation:
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009 ; Optica Applicata, Vol. 39, 2009, nr 4 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Rights:
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Access Rights:
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Location:
Group publication title:
Object collections:
- Lower Silesian Digital Library > Participants of the Consortium > 01. Wrocław University of Science and Technology > Journals WUoT > Journals published at Wrocław University of Technology > Optica Applicata
- Lower Silesian Digital Library > Resources > 2. Czasopisma > Czasopisma współczesne
- Lower Silesian Digital Library > Fields of science > 6. Nauki ścisłe i przyrodnicze
Last modified:
Mar 15, 2019
In our library since:
Mar 15, 2019
Number of object content hits:
218
All available object's versions:
https://dbc.wroc.pl/publication/112016
Show description in RDF format:
Show description in OAI-PMH format:
| Edition name | Date |
|---|---|
| Optical and electrical characterization of defects in zinc oxide thin films grown by atomic layer deposition | Mar 15, 2019 |
Similar
Gierałtowska, Sylwia Wachnicki, Łukasz Witkowski, Bartłomiej S. Godlewski, Marek Guziewicz, Elżbieta Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Witkowski, Bartłomiej Sławomir Wachnicki, Łukasz Nowakowski, Piotr Suchocki, Andrzej Godlewski, Marek Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Wójcik, Aleksandra Kopalko, Krzysztof Godlewski, Marek Łusakowska, Elżbieta Guziewicz, Elżbieta Minikayev, Roman Paszkowicz, Wojciech Świątek, Krzysztof Klepka, Marcin Jakieła, Rafał Kiecana, Michał Sawicki, Maciej Dybko, Krzysztof Phillips, Matthew R. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Domaradzki, Jarosław Borkowska, Agnieszka Kaczmarek, Danuta Prociów, Eugeniusz L. Gaj, Miron. Redakcja
Godlewski, Marek Gaj, Kazimierz. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Nocuń, Marek Pająk, Zuzanna Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jakieła, Rafał Jasik, Agata Strupiński, Włodzimierz Góra, Krzysztof Kosiel, Kamil Wesołowski, Marek Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Photoluminescence spectroscopy for the evaluation of band potential roughness of InGaN active layers
Kazlauskas, Karolis Jursenas, Saulius Miasojedovas, Saulius Pobedinskas, Paulius Tamulaitis, Gintautas Zukauskas, Arturas Ivanov, Vitalii Yu. Godlewski, Marek Skierbiszewski, Czesław Siekacz, Marcin Leszczyński, Michał Franssen, Gijs Perlin, Piotr Suski, Tadeusz Grzegory, Izabella Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
