Mickevicius, Sigitas ; Grebinskij, Sergej ; Bondarenka, Vladimiras ; Tvardauskas, Henrikas ; Vengalis, Bonifacas ; Sliuziene, Kristina ; Orlowski, Bronislaw A. ; Drube, Wolfgang
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3, s. 235-243
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Apr 3, 2019
Apr 3, 2019
33
https://dbc.wroc.pl/publication/117626
Edition name | Date |
---|---|
Investigation of the aging of epitaxial LaNiO3–x films by X-ray photoelectron spectroscopy | Apr 3, 2019 |
Grodzicki, Miłosz Wasielewski, Radosław Mazur, Piotr Zuber, Stefan Ciszewski, Antoni Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Kisiel, Marcin Skrobas, Kazimierz Jałochowski, Mieczysław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Changshi, Liu Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Nocuń, Marek Zontek, Joanna Kwaśny, Sławomir
Nocuń, Marek Burcon, Dorota Siwulski, Stanisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Szukalski, Jan Gaj, Miron. Redakcja
Paczóski, Jan Klamer, Bogna Gaj, Miron. Redakcja