Mickevicius, Sigitas ; Grebinskij, Sergej ; Bondarenka, Vladimiras ; Tvardauskas, Henrikas ; Vengalis, Bonifacas ; Sliuziene, Kristina ; Orlowski, Bronislaw A. ; Drube, Wolfgang
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3, s. 235-243
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; click here to follow the link ; click here to follow the link
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
Apr 3, 2019
Apr 3, 2019
35
https://dbc.wroc.pl/publication/117626
Edition name | Date |
---|---|
Investigation of the aging of epitaxial LaNiO3–x films by X-ray photoelectron spectroscopy | Apr 3, 2019 |
Kisiel, Marcin Skrobas, Kazimierz Jałochowski, Mieczysław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Grodzicki, Miłosz Wasielewski, Radosław Mazur, Piotr Zuber, Stefan Ciszewski, Antoni Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Nocuń, Marek Burcon, Dorota Siwulski, Stanisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Changshi, Liu Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Nocuń, Marek Zontek, Joanna Kwaśny, Sławomir
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja
Wojewoda, Henryk Gaj, Kazimierz. Redakcja