Nylandsted Larsen, Arne ; Mesli, Abdelmadjid
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3, s. 245-256
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
3 kwi 2019
3 kwi 2019
74
https://dbc.wroc.pl/publication/117627
| Nazwa wydania | Data |
|---|---|
| Capacitance-transient spectroscopy on irradiation-induced defects in Ge | 3 kwi 2019 |
Kowalczyk, Anna E. Ornoch, Leszek Muszalski, Jan Kaniewski, Janusz Bąk-Misiuk, Jadwiga Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Gelczuk, Łukasz Dąbrowska-Szata, Maria Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Romanowski, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Dobierzewska-Mozrzymas, Ewa Gaj, Miron. Redakcja
Marcinów, Tadeusz Wesołowska, Cecylia Wiktorczyk, Tadeusz Gaj, Miron. Redakcja
Rattan, R. Gupta, A. K. Singh, K. Gaj, Miron. Redakcja
Kaczmarek, Franciszek Mietlarek, Andrzej Gaj, Miron. Redakcja
Bissinger, Janusz Raczyński, Krzysztof Gaj, Miron. Redakcja