Mickevicius, Sigitas ; Grebinskij, Sergej ; Bondarenka, Vladimiras ; Tvardauskas, Henrikas ; Vengalis, Bonifacas ; Sliuziene, Kristina ; Orlowski, Bronislaw A. ; Drube, Wolfgang
Gaj, Miron. Redakcja ; Wilk, Ireneusz. Redakcja
Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3, s. 235-243
Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej
<sygn. PWr A3481II> ; kliknij tutaj, żeby przejść ; kliknij tutaj, żeby przejść
Optica Applicata ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006 ; Optica Applicata, Vol. 36, 2006, nr 2-3 ; Politechnika Wrocławska. Wydział Podstawowych Problemów Techniki
Wszystkie prawa zastrzeżone (Copyright)
Dla wszystkich w zakresie dozwolonego użytku
3 kwi 2019
3 kwi 2019
29
https://dbc.wroc.pl/publication/117626
Nazwa wydania | Data |
---|---|
Investigation of the aging of epitaxial LaNiO3–x films by X-ray photoelectron spectroscopy | 3 kwi 2019 |
Kisiel, Marcin Skrobas, Kazimierz Jałochowski, Mieczysław Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Grodzicki, Miłosz Wasielewski, Radosław Mazur, Piotr Zuber, Stefan Ciszewski, Antoni Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Changshi, Liu Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Nocuń, Marek Zontek, Joanna Kwaśny, Sławomir
Nocuń, Marek Burcon, Dorota Siwulski, Stanisław Gaj, Miron. Redakcja Urbańczyk, Wacław. Redakcja
Jagoszewski, E. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Stádník, B. Jirásková, M. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja
Woźnicka, G. Kruszewski, J. Gutkowski, M. T. Gaj, Miron. Redakcja Wilk, Ireneusz. Redakcja